二硒化钛单晶透射电子显微镜样品制备及微结构研究

李俊; 姚奕辰

doi:10.12405/j.issn.2097-1486.2024.03.004

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二硒化钛单晶透射电子显微镜样品制备及微结构研究

更新时间：2025-02-26

- 二硒化钛单晶透射电子显微镜样品制备及微结构研究
- A study on transmission electron microscopy specimen preparation and the microstructure of 1T-TiSe₂ single crystal
- 新兴科学和技术趋势 2024年3卷第3期页码：266-273
- 作者机构：
  
  1.中国科学院物理研究所，北京 100190
  2.北京市第四中学，北京 100034
- 作者简介：
  
  [ "李俊，男，博士，中国科学院物理研究所副研究员，中国科学院青年创新促进会会员。2015—2016年在沙特阿卜杜拉国王科技大学从事博士后研究工作，2016—2019年间在美国布鲁克海文国家实验室担任研究助理，2019年3月归国在中科院物理所工作至今。主要研究领域包括运用超快电子显微学在飞秒和皮秒时间尺度上探索强关联材料体系中的超快结构动力学行为以及新奇隐含量子态，以及运用透射电子显微镜研究功能材料中结构与新颖物性间的关联。在Phys. Rev. Lett.，Nature Comm.，Adv. Mater.等学术杂志上发表论文60余篇。主持基金委面上项目一项，中国科学院稳定支持基础研究领域青年团队成员，作为项目骨干参与重大科技基础设施—综合极端条件实验装置的建设任务。Email： junli@iphy.ac.cn" ]
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(12074408)
- DOI：10.12405/j.issn.2097-1486.2024.03.004
  中图分类号： O469
- 收稿日期：2024-08-10，
  
  修回日期：2024-08-20，
  
  纸质出版日期：2024-09-25
- 稿件说明：
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李俊,姚奕辰.二硒化钛单晶透射电子显微镜样品制备及微结构研究[J].新兴科学和技术趋势,2024,3(3):266-273.

LI Jun,YAO Yichen.A study on transmission electron microscopy specimen preparation and the microstructure of 1T-TiSe₂ single crystal[J].Emerging Science and Technology,2024,3(3):266-273.
李俊,姚奕辰.二硒化钛单晶透射电子显微镜样品制备及微结构研究[J].新兴科学和技术趋势,2024,3(3):266-273. DOI： 10.12405/j.issn.2097-1486.2024.03.004.

LI Jun,YAO Yichen.A study on transmission electron microscopy specimen preparation and the microstructure of 1T-TiSe₂ single crystal[J].Emerging Science and Technology,2024,3(3):266-273. DOI： 10.12405/j.issn.2097-1486.2024.03.004.

摘要

本文结合二硒化钛（1T-TiSe

）单晶介绍一种可广泛应用于二维层状材料透射电镜样品制备的实验方法，可将厚度合适的单晶薄片转移至金属载网或原位电/热芯片上，具有操作简便、成功率高的特点。针对所制备的样品，使用高分辨透射电子成像、原子分辨扫描透射成像、原位变温电子衍射和输运测量、X射线色散能谱和电子能量损失谱等技术对材料的结晶质量和微观结构特性进行了系统的表征，结果表明材料本征性质在制备过程中得以保留。此外，对该方法的现存不足进行了讨论，对未来发展做出了展望，以期为相关科研工作提供参考。

Abstract

This article introduces an experimental method of preparing transmission electron microscopy （TEM） specimen of titanium diselenide （1T-TiSe

） single crystal， which can be extended to the two-dimensional layered materials. Crystal flakes with electron-transparent thickness can thus be transferred onto either metal grids or in-situ electric/thermal chips， with the advantages of simple operation and wide adaptation. The prepared specimens were characterized by high-resolution transmission electron imaging， atomic-resolved scanning TEM， in-situ cryogenic electron diffraction and transport measurements， X-ray dispersive energy spectra， and electron energy loss spectra to systematically study the crystalline quality and microstructure features of the material. The results show that the intrinsic crystal properties are preserved during the preparation process. Additionally， the limitations and future prospects of this method are discussed， aiming to provide references for relate

d research work.

关键词

Keywords

references

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